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  • STS半导体测试设备

    STS半导体测试设备

    产品可测试:功率放大器 (PA ,PowerAmplifier) 、双工器(Duplexer) 、射频开关 (Switch) 、滤波器 (Filter) 、低噪放大器 (LNA ,LowNoiseAmplifier) 等部件】 ,可以提供 完整的射频功率器件CP (晶圆)及FT量产测试方案。产品优势:产品适合测试高性能PA (功率放大器) ,FEM ,射频收发器;具有卓越的EVM 以达到更快的测试时间;可进行自动测试系统的高级表征测试;优化的射频库加速开发;模块化架构支持灵活的未来升级路径。
  • 高精度共晶贴片设备

    高精度共晶贴片设备

        产品为激光器、探测器、调制器、AOC、WDM/EML TO-Can,光模块、LiDAR、VR/AR、传感器和光 学成像等产品的研发、生产提供“一站式”解决方案。凭借多年的行业经验和优秀技术支持团队, 我们为所有级别的封装提供*有效的系统和组装解决方案,包括晶片芯片(CoW),基板芯片 (CoC),PCB,TO和管盒封装。 功    能: 自动蘸胶;自动更换吸头; 蓝膜取片; 填充工艺气体; 基板加热。关键参数: *高贴装精度±2um; *高贴装角度±0.1°; 加热台温度 25-550℃; 贴装压力 15-150g。行业应用: 适用于5G通讯芯片COC、高功率 激光芯片、激光器等芯片共晶组装 全金属壳多芯片共晶贴装 砷化镓(GaAs)和氮化镓(GaN) 模片的金锡(Au/Sn)粘结。型号ModelGJ04-03GJ05-03工艺兼容性适用于多芯片共晶贴装适用于一对一,一颗芯片对基板的共晶 键合UPH120 (根据具体焊接芯片数量以及   需求)200 (COS)放置精度Placement  accuracy±3um @3 σ±3um @3 σ放置角度Placement  angle≤±0.1。≤±0.25。圆晶台Wafer table2个6in2个6in*小吸取尺寸     Smal lest chip s ize0.15mm*0.1mm*0.1mm0.15mm*0.1mm*0.1mm焊接温度范围     Temperature range25-550℃25-550℃设备尺寸Size1900mmW*1400mmD*1900mmH1200mmW*800mmD*1700mmH压力控制Pressure   control闭环控制、力传感器直接反馈可控  范围: 15-150g闭环控制、 自动音圈控力可控范围:     15-150g焊接功能W装置、安全光幕保护、接地和防静电处理工艺模块/功能增  强Process module自动蘸胶模块自动更换吸头模块芯片陈  放模块蓝膜取片模块点胶模块 (可选)   标识码识别系统模块工艺气体模块UV固  化模块 (可选)自动蘸胶模块芯片陈放模块蓝膜   取片模块标识码识别系统模块工   艺气体模块
  • 高精度数据采集仪

    高精度数据采集仪

    尚毅是高精度信号尚毅是高精度信号采集和处理优秀供应商。我们在信号领域提供电压、电流、温度、阻抗等多种信号采集和处理“一站式”解决方 案。        设备参数 Specifications型号 ModelSunyee2024-40电源 Power Supply5V/2A Isolation通讯 CommunicationRS232电压 VoltageRange:±24Vdc;Accuracy:0.01V电流 CurrentRange:0-2A;Accuracy:0.00001A温度 TemperatureRange:-55C-120C;Accuracy:0.1C电阻 ResistanceRange:1 Ω-110MΩ; Accuracy:0.1%电阻测量激励方式交流激励法/直流激励法保护等级 ProtectiveClass Ⅰ防护等级 Ingress protectiveIP20工作温度 Temp-25C~60C尺寸 Size280×220×60 (mm)重量 Weight2.5Kg 可选组合(非标配)Optional combinatio1. 3/4G 无线传输模块/  3/4G module is optional2. Rs485 optional3. 默认每组信号 10 通道, 可根据客户要求定制/Bydefault, each group of signals has 10 channels, which can be customized according to customer requirements
  • 滤波器测试机

    滤波器测试机

    产品描述受益于通信技术升级,射频滤波器的需求和价值快速上 升,尚毅测控(PGtec)针对这一市场需求,推出了PGT-X106 Filter Test System,满足了滤波器的实验室及量产测试,提供完整的滤波器测试方案。应用场景l   支持3-site滤波器并测/2-site双工器并测/1-site四工器测试l   可扫描频率和信号功率l  兼容转塔式和平移式分选机,包括SRM,EPSON,⻓川,金海通等l  支持多台分选机同时工作,采用pingpong模式或者simultaneous模式,TTL接口连接分选机软件功能指标范围PGT-X106测试机标配6个RF端口,频率范围为9kHz-20GHz,动态范围 140dB,频偏±7ppm以内。中频带宽1Hz-15MHz,点数支持1点-50001点。优势PGT-X106测试机专为滤波器测试优化了测试架构,降低了链路复杂度,因 此信号质量高,性能更加出色,确保了测试的稳定性、一致性和可靠性。拥有 超快的测试速度和超高的性价比。单site UPH*高可达20k,双siteUPH*高可达40k。
  • 高速AD/DA测试机

    高速AD/DA测试机

    产品描述数据转换器(ADC/DAC)测试系统解决方案覆盖INL、DNL、SNR、THD、IDD、IDDQ与电 压高/低临界测试。半导体测试平台可让工程师建构高效半导体测试系统。这些系统可缩短开发时 间并减少设备体积,满足日趋复杂的测试需求。
  • GaN PA加速老化测试机

    GaN PA加速老化测试机

    产品描述加速老化测试是评估IC可靠性的一项关键性基础测试,它采用电应力加速的方式模拟器件的⻓期运行。因 为测试中应用的电激励反映了器件工作的*坏情况,使用测试过程基本上模拟运行了器件的整个使用寿命。功能可支持JESD22标准GaN器件所有上电实验类型,包括HTOL、HTRB、IOL、THB实验,部分实验无需焊台、温 箱、温循设备等辅助加热设备,极大节省设备采购和使用成本;可输出480路可调栅压信号,同时支持*多480只GaN单管同时实验,可同步进行多个Lot多个样本实验;特有功放管失效监控机制,在一定范围内可通过指示灯反应功放管是否失效(栅极短路);带有栅压步进操作程序,能按照推荐步进统一调整栅压,大大降低器件在实验过程中开启⻔限变化需要调整栅压 的时间开销,极大提升操作效率,同时带有*多15个温度传感器,支持*多3块射频板四周及中间部分温度读 取;带有外部接口,可采用信号发生器灵活配置IOL实验的开关周期,能直接驱动48V⻛扇,并提供外部控制信号控制 220V⻛扇的继电器,无需温循设备即可达到功放管结温周期变化100°C以上;射频板支持外供统一栅压和高漏压,无需控制板可单独配置HTRB、THB实验环境;射频板为一次性消耗品,需根据用戶需求定制开发,可支持陶封、塑封GaN器件,支持表贴和沉槽安装等安装方 式。优势   供电简单,极大减少功放管栅压单独供电的设备需求,以及串行实验带来的时间开销;操作简单,易于监控温度,可直接根据热阻推算功放管结温,实验中各只功放管温度相差5°C以内,可根据实际温度任 意调整功放栅压,且有记忆存储功能,便于**控制功放管工作状态以及问题反查。
  • 射频前端测试机

    射频前端测试机

    产品描述射频前端测试机是专⻔针对射频系统中RFFE芯片的测试系统,可以应对所有种类射频前端分立 器件和射频前端模组的复杂测试挑战。更广泛的测试协议5GNRLTE FDD/TDDWCDMA, TD-SCDMA, CDMA2000 GSM/EDGE 802.11a/b/g/n/ac/ax产品优势高 精 度 : 选用高性能硬件,配合先进校准技术,准确地获得被测件的各项待测参数。高 效 率 : 优化系统架构,搭载自主研发的测试软件,大幅提高测试速度,快速投入量产。 高可靠性:通过程序本身控制测试流程,将人为不当操作对测试准确性的影响降到*低。通 用 性 : 内置多种测试模块选择,功能全面,支持各类RFFEM模块,更好地针对不同要求,完成测试任务,满足量产需求。易 用 性 : 硬件接插方便快捷,并带有防错设计,易于上手;软件界面简明直观,操作逻辑人性化,大大降低封测厂的培训成本。性 价 比 : 卓越的性能,合理的定价,快速周到的本地化服务,*大化节约客戶的成本。
  • 半导体测试

    半导体测试

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