这一基于平台的开放式方法结合了模块化仪器和系统设计软件,为射频和混合信号生产测试提供更好的解决方案   AUSTIN, Texas –2014年8月5日 – NIWeek－NI (美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球*严峻的工程挑战的供应商，今日宣布推出NI半导体测试系统(STS)系列。这些基于PXI的自动化测试系统通过在半导体生产测试环境中引入NI和工业标准的PXI模块降低了射频和混合信号设备的测试成本。与传统半导体自动化测试设备(ATE)相比，STS前沿用户正在获益于降低的生产成本和提高的吞吐量，并且可使用相同的硬件和软件工具中进行特征性测试和生产。这可以减少数据关联的时间，进而缩短产品上市时间。   “随着集成电路的复杂性呈指数增长，为从设计验证到生产线末端测试等应用提供*佳测试覆盖率的高成本效益ATE变得越来越重要，” 英飞凌科技股份公司的汽车车身动力产品资深设计和应用工程师Hans-Peter Kreuter博士表示，“对于混合信号测试，基于PXI的STS相比传统ATE，以非常低的成本提供了*佳测试覆盖率。”   STS的开放模块化架构使得工程师能够使用*前沿的PXI仪器，这是采用传统具有封闭结构的ATE无法实现的。这对于RF和混合信号测试尤其重要，因为**半导体技术要求的测试覆盖率往往超越了传统ATE所能提供的。STS结合了TestStand测试管理软件和LabVIEW系统设计软件，具有一组针对半导体生产环境的丰富功能，包括可定制的操作界面、分选机/探针集成、具有引脚-通道映射且以设备为中心的编程、标准测试数据格式报告以及集成式多点支持。有了这些功能，工程师可以快速开发、调试和部署测试程序，缩短总体上市时间。此外，STS还具有全封闭的“零占用空间”测试头、标准的连接和对接机制，可与半导体生产测试台相集成。   “随着测试系统不断更新换代，旧测试系统无法满足新的测试需求，使用传统的ATE系统需要不断更换试验车间的设备，从而导致高昂的成本，但STS的开放式PXI架构可以帮助我们保持原有的投资并在其基础上进行扩展，而不是淘汰掉那些设备，”Integrated Device Technology (IDT)测试总监Glen Peer表示，“它提供了我们需要的灵活性，使我们能够根据不断提高的性能需求重新配置和扩展我们的测试平台。”   STS系列包括三个不同的型号T1、T2和T4，分别可容纳一个、两个和四个PXI机箱。这些体积各异但却具有相同软件、仪器和互联机制的系统使得工程师能够针对各种引脚数和站点数需求进行优化。此外，STS的可扩展性使其可部署到从特征性测试到生产测试等各个过程，不仅优化了成本，而且大大简化了数据的相关性，进而缩短了产品上市时间。   为了确保用户的成功，NI提供了由NI专业工程师和世界各地的NI联盟伙伴支持的培训、产品和服务。对于产品和配置帮助，请联系您所在地的NI销售工程师。如需了解更多关于NI半导体测试系统，请访问www.ni.com/sts。关于NI自1976年以来，美国国家仪器，简称NI (www.ni.com)一直致力于提供各种工具来帮助工程师和科学家提**率、加速创新和探索。 NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成的软硬件平台，有助于加速测量和控制系统的开发。 长期以来，NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展，确保客户、员工、供应商及股东获得成功。

  新闻发布 —— 2013 年 12月 ——　美国国家仪器有限公司（National Instruments, 简称NI）近日发布四个全新带USB连接的R系列板卡 (USB-7855R、USB-7856R、USB-7855R  OEM与USB-7856R OEM)，通过目前市场上广泛采用的总线，帮助工程师将FPGA技术添加至任何基于PC的系统。这些产品都基于LabVIEW RIO架构，足以证明NI在R系列产品家族上的投入功不可没。  LabVIEW RIO架构是NI图形化系统设计平台的一个重要部分。 图形化系统设计是一种现代化的嵌入式监控系统设计、原型开发和部署方法，结合了开放的NI LabVIEW图形化编程环境和现成的硬件，能够显著简化开发流程，带来更高质量的设计且能够集成自定义设计。“使用这些新的USB R系列设备，工程师和科学家们可以借助标准的PC技术，创建高度可定制的测量和控制系统，”NI嵌入式系统市场总监Jamie Smith表示。“它们是高性能医疗、生命科学和半导体设备的理想选择。  主要功能： • Xilinx Kintex-7 FPGA: 执行各项任务，如自定义定时和触发、同步、多速率采样、高速控制和    板载信号处理。 • 增强型I/O: 闭环控制任务的模拟输入和输出率高达1 MHz，数字I/O (DIO)率高达80 MHz。 • 可选的逻辑电平（从1.2至3.3 V）: 调整DIO水平，以满足特定的应用需求 • 可选模拟输入范围增益: 在较低的电压范围内获得更高的分辨率。 • OEM选项: 仅包含板卡的组成结构提供了相同的功率，并可灵活创建自己的I/O接口。

新测试台推动下一代无线系统研究  新闻发布 —— 2014年3月 —— 美国国家仪器公司（National Instruments, 简称NI）近期和瑞典隆德大学近日宣布合作开发大规模多入多出(MIMO)系统原型测试台。该测试台由一个具有100个传输和接收节点的大规模MIMO基站组成。研究人员能够将用于仿真移动设备的多个用户设备链接至大规模MIMO基站。这些设备可仿真真实的场景，用于比较大规模MIMO的真实性能和理论性能。  大规模MIMO在5G通信领域是一个比较新的概念，旨在解决下一代通信系统面临的容量和能源挑战。隆德大学和NI合作开发大规模MIMO测试台是一项**挑战性的任务。该原型用了100多条天线，是同类应用中**和*全面的，这使其成为通往5G之路中**达到该量级和复杂度的测试台。隆德大学的研究人员Ove Edfors和Fredrik Tufvesson表示：“我们很高兴看到美国国家仪器对大规模MIMO研究和试验台开发项目所作出的承诺。通过此次合作，我们相信我们将能够取得突破性的成果，这可能会对未来5G网络的定义有显著影响。”  美国国家仪器公司RF和通信研究总监James Kimery表示：“在美国国家仪器公司，我们相信我们的PXI平台、USRP软件定义无线电平台，加上NI LaBVIEW图形化系统设计软件，是开发此类系统原型的**技术选择。如果没有这些技术，开发该系统的原型将是不切实际的。我们很高兴能与隆德大学在此项目开展合作，研究和评估大规模MIMO的概念，为5G的研究工作做出贡献。”大规模MIMO概述大规模MIMO的概念涉及采用超大型天线阵列的基站部署，其中包含数百个收发元件，旨在增加网络容量、提高可靠性，并降低了信道的整体发射功率。理论上，大天线阵列的总发射功率小于用于指定单元或区域的单个天线的发射功率，却能提供相同或者更高的数据传输速率。大规模MIMO一直是许多研究论文的主题，但却没有人能够像隆德大学和NI这样如此大规模地在真实场景中对该概念进行测试。关于隆德大学隆德大学致力于成为世界**的大学，以理解、解释和改善世界和人类的生存条件为使命。该大学名列世界大学前100强，拥有47, 000名学生和7, 200名教师职工。我们努力解决复杂问题和全球性挑战，并确保应用我们的知识和创新能力来造福社会。该研究具有***高水准，同时在多个领域中占据国际＊＊地位。电气和信息技术学院的研究团队及其合作伙伴被认为是大规模MIMO技术领域的先驱。

 新闻发布 —— 2014年3月 —— 美国NI仪器公司（National Instruments, 简称  NI）近日发布了具有200 MHz RF带宽的NI PXIe-5646R矢量信号收发仪，为IEEE 802.11ac、160 MHz WLAN和LTE Advanced等**的无线标准提供了理想的测试仪器。工程师可借助矢量信号收发仪的开放式软件设计来开发用于频谱分析及许多其它应用的通道仿真系统、快速原型、自定义实时信号处理。  NI矢量信号收发仪结合了矢量信号分析仪、矢量信号发生器以及用于实时信号处理和控制的用户可编程FPGA。借助FPGA的速度、确定性处理以及固有并联架构，一些用户已经体验到10-100倍的测试速度提升，典型例子包括功率放大器测试中的功率伺服。矢量信号收发仪建立在NI LabVIEW RIO架构上，结合了灵活的编程和**的射频硬件，对移动技术测试产生了革命性影响。NI PXIe-5646R以250 MS/s的采样速率提供了200 MHz的复杂带宽，该数据速率是标准LTE无线帧的8倍。这使得矢量信号收发仪成为**设计和测试技术（如数字预失真和包络跟踪）的理想选择。  NI PXIe-5646R采用的是LabVIEW系统设计软件，为简化现代设计和应对测试挑战提供了理想的平台。