据生态环境部数据显示，2018年全国338个地级及以上城市优良天数比例为79.3%，同比上升1.3个百分点，细颗粒物(PM2.5)浓度同比下降9.3%。空气中到底有哪些污染物质是有毒有害的？生态环境部制定的《有毒有害大气污染物名录(第一批)(征求意见稿)目前已完成公开征求意见,或将正式发布。　　据称这是新《大气污染防治法》实施以来，我国第一次制定《大气名录》。根据大气污染物对公众健康和生态环境的危害和影响程度,公布有毒有害大气污染物名录,实行风险管理,目的就是为了保护公众健康，这很值得期许。　　《大气名录》可为职能部门预警和政府决策提供科学依据，做到胸中有数，有的放矢。据介绍,第一批的《大气名录》是在《优控名录》基础上筛选出向大气环境排放的、具有国家排放标准和监测方法、可以实施管控的化学污染物，包括二氯甲烷、甲醛、三氯甲烷、三氯乙烯、四氯乙烯、乙醛等6种挥发性有机物；镉及其化合物、铬及其化合物、汞及其化合物、铅及其化合物和砷及其化合物等5种(类)重金属类物质，共11种(类)污染物。　　此前，我们仅用细颗粒物(PM2.5)浓度的高低，作为大气监测和管控的基本依据，略显粗放。针对《大气名录》做出积极的应对，不断提高大气预警以及治理决策的科学性和时效性，无疑有助于提升环境治理的经济和社会效益。　　《大气名录》的发布也是实施源头治理，强化企业社会责任的关键一环。根据《大气污染防治法》,排放有毒有害大气污染物的企事业单位，既要对污染物实行源头风险管理,又要落实污染源环境管理制度，这也意味着这些企业除了依法履行大气污染防治义务外,还要履行风险防控义务。　　《大气名录》可以督促相关企业采取技术改进和创新、强化环境风险评估，排查环境安全隐患，以及对排放口和周边环境定期监测等多种路径，减少相关污染物的排放等有效措施，以便降低环境与健康风险。　　大气环境直接关乎民众健康，老百姓既有权利对空气污染物知情，更有权利对政府尤其是相关企业实时监督。《大气名录》即可让百姓明确监督的对象，不至于再斗拳打空气。有了人民群众更切近的监督，更有助于激励相关企业自尊自强，更好地履行造福民生的社会责任。

NI（美国国家仪器，National Instruments, 简称NI）今日宣布斯巴鲁等主要汽车制造商正在使用NI硬件在环（HIL）技术来模拟电动汽车测试中的实际路况，以消除环境因素带来的测试时间和成本。过去，工程师在测试道路或公共道路上使用成品车进行车辆测试，以检测车辆的性能和安全响应。 但是，某些限制（例如天气和崎岖的路面状况）可能会导致工程师难以及时在道路上进行可重复测试。 此外，由于电动车辆的许多子系统彼此相互依赖，因此电动车辆的构造极其复杂。 这种复杂性加上不断缩短的开发周期和成本使得汽车测试工程师面临着严峻的挑战。 为了解决这些问题，斯巴鲁使用基于NI PXI产品和LabVIEW软件的NI HIL仿真解决方案替代了验证测试的实际路况。 借助HIL系统，斯巴鲁可以在对整个系统进行实际诊断之前，消除环境因素，并在虚拟环境中**、彻底地测试车辆的嵌入式控制器。 “借助NI PXI产品和LabVIEW，我们能够在一到两周内完全实现定制的HIL系统，并自行开发所需的软件，”斯巴鲁公司电气动力装置研究和实验部门的Daisuke Umiguchi表示。  “这帮助我们将产品采购成本降低到仅为其他解决方案的三分之一左右，并且由于我们熟悉LabVIEW，相比聘请外部开发人员，我们的软件开发成本仅为六分之一左右“。 斯巴鲁计划在电动汽车开发的**阶段使用该测试系统进行*终质量检查，并*终将其应用扩展到所有类型汽车。 通过采用该系统，斯巴鲁预计与传统方法相比，劳动时间减少了一半。

2020年实现5G商用的规模化，业界对此基本上已经达成了共识，中国已经成为5G全球“战场”的重要一环。而NI在基于5G原型部署到测试的NI平台化解决方案方面，积极协助中国的研发力量，抢占5G商用的先机。2018年4月11日，在第七届EEVIA年度中国ICT媒体论坛暨2018产业和技术展望研讨会上，NI中国技术市场工程师马力斯发表了“以软件为中心的测试平台如何助力抢位5G时代”的主题演讲。“NI服务的核心是以软件为中心的平台帮助工程师更高地提**率，提高测试速度。”马力斯提到，“回到5G这个话题，其实就是能够帮助客户更快地进行上市，时间对于我们就是**的成本，NI希望能够降低大家的测试时间和上市时间。”行业大致给出了一个5G落地的时间表，如下图。“从5G NR部分来看，分Phase 1和Phase 2。Phase 1其实已经在2017年12月3GPP第一版在sub-6GHz已经落地，这一块主要集中在物理层。Phase 2我们的研究重点和草案规划的重点会更多的放在毫米波部分。”马力斯说到。在毫米波部分，将会更多的考虑像400MHz这样的带宽。这样的带宽对于测试厂商来说，特别是像高端的射频前端的一些芯片，它可能还会用数字预失真，包络跟踪这种方式，这种方式就需要测试设备有一个更高的带宽，才能满足这种设计的要求。另外，5G测试还面对着复杂性的提升、4G和5G共存的问题、更多的射频指标的测试，还有*重要的就是刚提到的测试时间和更快的上市时间的挑战。而NI是如何应对这样的挑战呢?说到仪器，大家的第一反应就是台式仪器。如下图左边部分，工程师的桌面，看到非常多的台式仪器，像频谱仪、信号源、网分、电源、源表，这些都是非常大的仪器。而5G前端设计得很复杂，有射频部分、数字部分、还有带宽要求，多个仪器的配合是不是有很好的同步，很好的进行协同，特别是进行复杂度提高这种自动化测试的要求，对于很多传统的设计公司来说，都比较难实现。而如果采用NI这种平台化的仪器，就能很轻松地解决这个问题。NI把这种仪器都是放在一个非常小的机箱里面，并且用PXI的技术完成非常好的同步机制，测试速度上其实有一个很大的提升。同时NI在一些算法上面，把傅里叶变换这种算法部署到FPGA里面，FPGA做FFT运算肯定会比CPU做FFT运算速度快上很多倍，因为它本身在FPGA这种天然运行的处理能力，会极大的提升处理速度，所以从同步和速度上面来看，NI这种方法其实会极大的提升测试效率。“NI的使命就是帮助工程师能够更快速的进行原型验证、进行测试、进行部署。作为一家测试测量厂商，我们一直以这样的使命帮助各行各业的工程师、企业，帮助完成更多的工程上的难题。”马力斯**说到。

NI(美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供基于平台的系统解决方案来应对全球*严峻工程挑战的供应商，，今日宣布推出一款Sub-6 GHz 5G测试参考解决方案，该解决方案符合5G新空口（NR）的3GPP Release 15规范。随着6 GHz以下的商用5G NR部署即将展开，工程师们正在积极开发Sub-6 GHz 5G 射频器件和设备。 5G标准化的加速步伐正在迫使厂商尽可能快速地将产品推向市场。  NI的Sub-6 GHz 5G NR参考解决方案是一种经济**且高性能的测试选项，可帮助工程师快速对其设计进行特性分析，并更轻松地从研发过渡到生产测试环境。NI推出的新参考测试解决方案非常适合测试新型宽带RFIC，特别是在3.3-4.2 GHz和4.4-5.0 GHz频段工作的RFIC。 工程师可以使用PXIe-5840矢量信号收发仪(VST)测试连续信号带宽超过400 MHz的设备，该款VST具有1 GHz带宽的瞬时信号收发功能，**频率可达6 GHz。 借助NI VST，该解决方案可为100 MHz NR信号提供优于0.32％（-50 dB）的残余EVM性能，同时提供更快的测量速度。该解决方案的关键部分是NI-RFmx NR测量软件，该软件跟随者3GPP规范的步伐进行演变。 **版本的NI-RFmx NR测量软件提供5G NR波形生成和测量功能，符合3GPP R15关于非独立组网NR的官方规范，使工程师能够测试子载波间隔在15 kHz到120 kHz之间灵活变化的OFDMA和DFT-s-OFDM载波聚合波形。NI公司RF和无线测试总监Jason White表示：“我们的5G测试新产品只是NI创新产品线中的**产品，旨在帮助工程师更快地将5G技术推向市场。 通过将高性能RF测量设备与极其快速灵活的测量软件相结合，我们可以在产品开发的多个阶段重复使用相同的仪器和测量设备，从而帮助工程师缩短产品上市时间和测量数据关联时间。”NI新的5G测试技术还为射频和半导体测试提供了全面的产品组合，包括用于2G、3G、LTE-Advanced Pro、WiFi 802.11ax、蓝牙 5等的测量软件。 此外，工程师可以使用NI VST以及600多种模块化PXI产品（频率从直流到毫米波）来开发全面的半导体特性分析和量产测试系统。

新版本的CompactRIO控制器基于具有TSN功能的以太网端口和NI-DAQmx驱动程序，提供了更高的性能。NI(美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI)今日发布了支持NI-DAQmx和时间敏感网络(TSN)的**版CompactRIO控制器。 这款控制器提供了基于标准以太网网络的确定性通信和同步测量，不仅提高了性能，还有助于提高生产力和灵活性。 NI是市场上第一个推出支持TSN（IEEE 802.11以太网标准的下一个演化版本）的工业嵌入式硬件的厂商。这款控制器的推出是NI持续投资TSN计划的一部分。 工程师可以使用TSN技术实现基于网络的分布式系统同步，从而消除了对昂贵的同步电缆的需求。  随着汽车、石油和天然气、科研和航空航天等行业继续部署工业物联网（IIoT），让分布式节点采集准确、可靠和同步的数据变得更具挑战性。 因此，公司必须跟上技术发展的步伐，确保他们的系统能够满足这些不断变化的要求。 在研究领域，A.M.S. Software GmbH已经通过基于NI-DAQmx的CompactRIO的灵活性而获益。 A.M.S.Software GmbH**执行官Klaudius Pinkawa表示：“对于**版CompactRIO控制器的推出，我们非常激动，因为它为我们提供了所需的灵活性。 我们需要在实验室中进行多项实验，然后在零重力下在飞机上进行同样的实验。 基于NI-DAQmx的CompactRIO使我们能够在两种环境中使用相同的硬件进行任何实验，从而节省了开发时间，并降低了实验风险。”CompactRIO控制器的功能：  •        通过基于标准以太网的TSN实现纳秒级同步，进而实现严格同步的分布式测量和控制•        由于采用了直观的NI-DAQmx驱动软件，因此测量速度比以前的CompactRIO控制器更快 •        使用NI Linux实时操作系统在IIoT边缘侧打开并安全执行处理程序•        采用工业级处理器和板载FPGA进行高性能数据分析和控制，可使用LabVIEW FPGA进行编程•        可在恶劣环境中工作，工作温度范围为-40°C至70°C，抗冲击性高达50 g，抗震性高达5 g随着NI-DAQmx引入到CompactRIO控制器系列，工程师们可以直接通过即用型功能访问I/O，这也是该驱动程序15年来一直成为**数据采集方法的原因。 这种直观的驱动程序结合NI Linux实时操作系统的开放性，意味着用户可以继续利用Linux的庞大IP生态系统，如安全增强型Linux（SE-Linux）。 十多年来，工程师们一直使用CompactRIO控制器来解决复杂的测量、控制和监测难题。 NI对新技术的投资可帮助工程师和科学家更好地分析和应对未来的工程挑战。 

集成电路设计所需十八般武艺中，有哪一种是行走江湖必不可少的基本功但你仍然一无所知的？这便是所有设计都需要的测试。测试是集成电路设计的重要环节。精确的测试结果，快速的Debug方法，直接决定了芯片Time-To-Market的效率。Digital IC、Analog IC、RFIC，各位IC designer奋斗在设计一线，不断的设计出速度更快、功耗更低、面积更小的芯片。每一次芯片流片回来，工程师的心情跌宕起伏：仿真很“丰满”，测试很“骨感”。管脚信号不对，what?输出电压偏高，what?性能偏了10dB, what?所有这些情况，大家可曾想过，有可能并不是芯片本身的问题，而是:测试方法和测试工具的问题！想了解和学习集成电路测试的实战方法和技巧吗？快来参加“NI测试杯”吧！与全球测试测量行业的***一起揭开集成电路测试的秘密！对于立志从事集成电路设计的同学来说，测试方面的知识和能力是让你脱颖而出的独门武器。测试不仅让你的设计成为一个完整闭环，成为集成电路的“全栈工程师”，同时对于测试的深刻理解也能反过来指导设计工作，提升设计的效率和成功率。成为一名测试工程师也是不错的职业选择，随着测试成本的增加，可测试设计在未来的集成电路设计活动中将具有突出地位，在未来的设计活动中会有20%的测试人员。相对于目前的市场需求需求量来说，测试工程师缺口巨大。从测试工程师开始，你将来能够成为**测试工程师，测试经理，测试主管。      为帮助中国集成电路的未来从业者在集成电路测试这一领域占得先机，2018年大赛与美国国家仪器(NI)有限公司携手合作，面向参赛的本科生设立了国内第一个集成电路测试方向的杯赛——NI测试杯。本杯赛将基于NI的先进测试仪器和专为测试、测量而设计的数据采集和仪器控制平台LabVIEW。只要你有集成电路设计的基础知识就可以参赛，通过这个杯赛，你可以学习掌握集成电路测试的原理和方法，并可利用NI为杯赛所搭建的硬件平台，在分区赛和总决赛中现场学习和操作测试仪器，完成自己的项目。选择其他杯赛的参赛同学也有参与本次测试赛事的机会。NI和大赛特别设置“测试单项杯”，只要你在自己的设计中考虑可测性设计，并完成所设计对象的测试方案设计就可以参加测试单项赛。企业将安排测试领域专家对你的方案进行评审和指导，优秀方案可获得NI测试单项奖。掌握测试知识和技能，成为集成电路“全栈工程师”，让你的集成电路职业生涯与众不同。你还在等什么，来参加NI测试杯赛吧！附：NI公司和赛题介绍：美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）自1976年成立以来，一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提**率、加速创新和探索。 NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台，有助于加速原型系统的开发。通过图形化系统设计平台，包括**的图形化开发软件LabVIEW，以及高性价比的模块化硬件，在整个工业界，NI已经帮助各领域的工程师不断创新，为遍布全球各地的35000家不同的客户提供多种应用选择，在缩短产品问世时间的同时有效降低开发成本。在半导体行业，NI的产品覆盖了半导体产业从设计到生产的几乎全部流程，为业内的设计室、晶圆厂、封测厂、高校和研究机构提供了非常有力的技术支撑，为他们提供可扩展的解决方案来应对成本、设计和器件挑战。2018年NI杯的赛题是以ADC芯片测试应用为背景，要求参赛者基于NI电路仿真软件Multisim、印制电路板设计软件Ultiboard和硬件测试仪器平台，实践ADC芯片从设计仿真、原理实现到产品实测的全流程，可以帮助参赛师生了解和掌握集成电路测试技术、提升测试设备的应用和开发能力。2018年NI单项奖的赛题要求参赛者在项目设计中考虑可测性设计，基于NI半导体测试软硬件平台并完成所设计对象的测试方案设计与验证，可以帮助参赛师生了解和掌握半导体测试技术，无论学生所学的是数字或是模拟方向，都会为将来从事的相关工作带来巨大优势。