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NI基于PXI的测试系统降低了半导体自动化测试成本
2014-09-10

这一基于平台的开放式方法结合了模块化仪器和系统设计软件,为射频和混合信号生产测试提供更好的解决方案

 

  AUSTIN, Texas –2014年8月5日 – NIWeek-NI (美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球*严峻的工程挑战的供应商,今日宣布推出NI半导体测试系统(STS)系列。这些基于PXI的自动化测试系统通过在半导体生产测试环境中引入NI和工业标准的PXI模块降低了射频和混合信号设备的测试成本。与传统半导体自动化测试设备(ATE)相比,STS前沿用户正在获益于降低的生产成本和提高的吞吐量,并且可使用相同的硬件和软件工具中进行特征性测试和生产。这可以减少数据关联的时间,进而缩短产品上市时间。

   “随着集成电路的复杂性呈指数增长,为从设计验证到生产线末端测试等应用提供*佳测试覆盖率的高成本效益ATE变得越来越重要,” 英飞凌科技股份公司的汽车车身动力产品资深设计和应用工程师Hans-Peter Kreuter博士表示,“对于混合信号测试,基于PXI的STS相比传统ATE,以非常低的成本提供了*佳测试覆盖率。”

   STS的开放模块化架构使得工程师能够使用*前沿的PXI仪器,这是采用传统具有封闭结构的ATE无法实现的。这对于RF和混合信号测试尤其重要,因为**半导体技术要求的测试覆盖率往往超越了传统ATE所能提供的。STS结合了TestStand测试管理软件和LabVIEW系统设计软件,具有一组针对半导体生产环境的丰富功能,包括可定制的操作界面、分选机/探针集成、具有引脚-通道映射且以设备为中心的编程、标准测试数据格式报告以及集成式多点支持。有了这些功能,工程师可以快速开发、调试和部署测试程序,缩短总体上市时间。此外,STS还具有全封闭的“零占用空间”测试头、标准的连接和对接机制,可与半导体生产测试台相集成。

   “随着测试系统不断更新换代,旧测试系统无法满足新的测试需求,使用传统的ATE系统需要不断更换试验车间的设备,从而导致高昂的成本,但STS的开放式PXI架构可以帮助我们保持原有的投资并在其基础上进行扩展,而不是淘汰掉那些设备,”Integrated Device Technology (IDT)测试总监Glen Peer表示,“它提供了我们需要的灵活性,使我们能够根据不断提高的性能需求重新配置和扩展我们的测试平台。”

   STS系列包括三个不同的型号T1、T2和T4,分别可容纳一个、两个和四个PXI机箱。这些体积各异但却具有相同软件、仪器和互联机制的系统使得工程师能够针对各种引脚数和站点数需求进行优化。此外,STS的可扩展性使其可部署到从特征性测试到生产测试等各个过程,不仅优化了成本,而且大大简化了数据的相关性,进而缩短了产品上市时间。

   为了确保用户的成功,NI提供了由NI专业工程师和世界各地的NI联盟伙伴支持的培训、产品和服务。对于产品和配置帮助,请联系您所在地的NI销售工程师。如需了解更多关于NI半导体测试系统,请访问www.ni.com/sts

关于NI

自1976年以来,美国国家仪器,简称NI (www.ni.com)一直致力于提供各种工具来帮助工程师和科学家提**率、加速创新和探索。 NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成的软硬件平台,有助于加速测量和控制系统的开发。 长期以来,NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展,确保客户、员工、供应商及股东获得成功。

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