半导体技术的要求通常会超出传统ATE所能为模拟、混合信号和RF测试提供的测试覆盖范围。半导体测试工程师需要更智能的解决方案来解决成本、可扩展性、设计和器件挑战。NI测试平台的“三大优势”与“三大应用”助力NI成为半导体测试界标杆级选手。

三大优势

1.降低测试成本

采用从特性分析到生产均适用的平台化方法，为RF和混合信号测试提供了更低成本的高性能测试解决方案。

2.更快速的测试

NI半导体测试客户表示，借助NI平台化方法，他们在满足测量和性能要求的同时，将测试时间缩短了10倍。

3.更**的测量

NI产品提供了业界＊＊的测量精度，并通过NI校准和系统服务来确保精度的长期有效性。

三大应用

我们正在与合作伙伴一起努力满足对芯片更高性能、更小尺寸、更低成本等要求，目前已经有许多成功案例：

• 借助半导体测试系统(STS)，Integrated Device Technology(IDT)公司能够测试各种设备类型，同时维持高测试吞吐量和可扩展性来满足未来的性能需求。

• Analog Devices基于LabVIEW和PXI开发了一个MEMS测试系统，与先前生产中使用的自动测试设备相比，资本设备成本降低了11倍。

• Qorvo公司借助PXI，将蜂窝功率放大器的特性分析时间从两周缩短至一天，而且没有牺牲测量质量或增加资本成本。

NI将重点突破以下三大应用领域：

1.批量生产测试

2.实验室特性分析和验证

3.晶圆级参数测试